Browsing by Author "Zakiev, V."

Filter results by typing the first few letters
Now showing 1 - 1 of 1
  • Thumbnail Image
    Item
    Прикладне застосування інтерференційного безконтактного 3D профілометру
    (Sherman Oaks, California : GS Publishing Services, 2023) Закієв, В.І.; Якушенко, О.С.; Юцкевич, С.С.; Ігнатович, С.Р.; Закієв, М.І.; Zakiev, V.; Yakushenko, O.; Utskevich, S.; Ignatobich, S.; Zakiev, M.
    Контактні профілометри широко застосовуються в техніці для оцінки якості оброблених поверхонь. Зазвичай, результати виміру представлені у вигляді малоінформативних профілограм. Для тривимірної реєстрації топографії поверхні з нанометричною роздільною здатністю авторами в 2003 році був розроблений безконтактний інтерференційний профілометр "Micron-beta". Розроблений профілометр було використано при проведенні досліджень, результати яких наведено далі. Прилад призначений для реєстрації мікротопографії поверхонь методом обробки послідовності інтерференційних картин і дозволяє будувати 2D та 3D профілі поверхні, кількісно оцінювати характеристики поверхні з нанометричною роздільною здатністю (всі відомі параметри шорсткості), обчислювати радіус закруглення, обсяг виступу (впадини) та обчислювати площі складної поверхні.